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IGBT模块封装突破技术挑战
发布日期:2024-03-23 06:54     点击次数:129

1月1日,作为一个关键的电力电子设备,IGBT模块面临着技术挑战和工业机遇的双重模式。由于其高可靠性设计和包装工艺控制困难,如何确保产品的可靠性和质量稳定性已成为核心问题。

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在包装过程中,材料匹配、高效散热、寄生参数低、集成度高等因素共同构成了高可靠性设计的核心要素。包装过程控制涉及焊接/烧结、高可靠性连接、ESD保护、老化筛选等环节,每个环节都需要长期探索和经验积累。

散热效率是影响模块性能和可靠性的关键因素。由于热膨胀系数不匹配和热机械应力,模块中不同材料的组合点在功率循环中容易脱落,导致散热失效。为了解决这一问题,业界正在不断探索和改进芯片间连接模式、散热结构、DBC板/基板材料、焊接/烧结工艺等。

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此外, 芯片采购平台客户认证也是一个巨大的挑战。由于稳定性和可靠性要求高,客户认证周期长且谨慎。新进入者很难在短期内得到下游客户的认可,而先发企业具有明显的优势。

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总的来说,随着技术的发展和应用的深化,IGBT模块包装技术的挑战和机遇并存。只有不断突破技术瓶颈,适应市场需求,才能在这个竞争激烈的市场中站稳脚跟。

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